产品介绍 产品介绍 Burn-In System Burn-In Chamber 3 Burn-In Chamber 设计用途 电子元件可靠度测试 高温老化测试 长时间压力测试 温度规格 精确温度控制 最高温度可达60°C 硬体配备 多组独立测试槽位 即时监控系统 安全保护机制 资料记录功能 主要优势 同时处理大量元件 确保测试稳定性 提供资料可追溯性 电子产品品质验证必备设备 1652005